• 桥式三坐标测量机CONTURA G2

    发布时间:2015年04月08日  点击数:

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    产品规格:

    详细说明

    桥式测量机CONTURA G2

    一机多用的扫描平台

    物超所值的CONTURA G2®非常适合中小型生产企业,其扫描技术可以高密度处理数据。利用VAST®的扫描技术使工件的形状检验可以最快速度获得高品质测量结果。可即时发现加工中的变化,确保产品质量并将废品率降至最低限度。

     
    重要特征

    坚固耐用的机械设计

     

    • X轴和Z轴均采用工业陶瓷作为导轨材料,具有良好的刚性,并有效防止温度波动及湿度和其他环境条件的影响
    • 适合车间的玻璃陶瓷光栅尺受粉尘和其他杂质的影响小
    • 三轴均采用四面环抱气浮轴承,可在高速运行和加速的条件下保持刚性和稳定性

     
    机器技术

    值得信赖的控制技术

     

    • 专利的计算机辅助误差技术(CAA),用于计算机辅助动态修正,保证测量结果准确可靠
    • C99控制柜,来自卡尔·蔡司的控制技术,实现机器和探头的最佳匹配
    • 模块化设计确保维保便捷并全面满足未来升级需求
    • 用户友好型标准控制面板,更方便、精确地控制所有轴向运动;无级变速旋钮,随时调整测量速度

     
    探头

     

    • CONTURA G2 direkt:采用蔡司扫描技术的入门级机型,配备Vast®XXT扫描探头,可以升级为G2 RDS
    • CONTURA G2 RDS:配备蔡司旋转测座RDS,结合接触式扫描探头Vast®XXT或光学探头Viscan,可自由、快速旋转,扫描范围达到任意角度位置
    • CONTURA G2 aktiv:配备蔡司Vast®XT主动扫描探头,可打点和扫描,精确测量深孔元素,对尺寸、形状及位置测量可靠性高
    • CONTURA G2 navigator:配备蔡司Vast XT gold主动扫描探头,提供最大精度的高速扫描

     
    选项

     

    • 设备的探针更换架具有非常高的更换重复精度,无须再次校准
    • 采用HTG(宽温带)机型,可以在较宽的温度范围内达到相同的测量精度
    • 采用U-STONE技术,将测量有效高度提升200mm,扩大Z轴测量空间

     
    软件

     

    • 蔡司用户友好型功能软件库
    • 基本软件包和选项产品满足所有的实际应用需求
    • 优化的面向对象编程模式
    • 全面模拟
    • 支持不同的探头
    • 图形化日志和统计

     
    尺寸


      测量范围 X× Y× Z[mm]
    CONTURA G2            700 × (700~1000) × 600
    1000 × (1200~1600) × 600
    (含U-Stone)
    长度测量误差(μm): 1.5 + L/333* 起

                        
    * - L = 测量长度以mm为单位
    根据设备规格、所配探头及使用环境,精度有所不同

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